Laboratorium Badań Struktury Ciała Stałego

2
Laboratorium umożliwi uzyskanie informacji ilościowej oraz jakościowej o procesach fizykochemicznych zachodzących na powierzchniach metalicznych, półprzewodnikowych, izolatorów oraz materiałów proszkowych i biologicznych. Zastosowanie wymienionych technik badawczych pozwoli na poszukiwanie materiałów o nowych i niespotykanych własnościach oraz udoskonalenie już istniejących. Pracownia mikroskopii sił atomowych (AFM) Mikroskop sił atomowych (AFM) z głowicą szybkoskanującą FastScan umożliwia prowadzenie badań powierzchni materiałów półprzewodnikowych, metalicznych, izolatorów oraz próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku, w zakresie temperatur od -35˚C do 250˚C. Głowice, w które jest on wyposażony dostarczają informacji na temat topografii badanej powierzchni oraz wielkości takich jak: chropowatość, tarcie, adhezja, sprężystość, zdolność przewodzenia prądu elektrycznego oraz pozwalają na określenie magnetycznych właściwości badanej powierzchni. GŁÓWNE USŁUGI: Tworzenie map powierzchniowych w nanoskali, uwzględniających takie właściwości jak: tarcie, adhezję, sprężystość, chropowatość, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczną, strukturę domen magnetycznych czy przewodność termiczną Obserwacja procesów zachodzących na badanej powierzchni w czasie rzeczywistym, w zakresie temperatur od -35˚C do 250˚C. Badanie topografii powierzchni (z wykorzystaniem dostępnych trybów pracy) próbek półprzewodni- kowych, izolatorów, metalicznych oraz biologicznych o średnicy do 210 mm i wysokości 15 mm. Badanie próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku LABORATORIUM BADAŃ STRUKTURY CIAŁA STAŁEGO 07

description

 

Transcript of Laboratorium Badań Struktury Ciała Stałego

Page 1: Laboratorium Badań Struktury Ciała Stałego

Laboratorium umożliwi uzyskanie informacji ilościowej oraz jakościowej o procesach fizykochemicznych zachodzących

na powierzchniach metalicznych, półprzewodnikowych, izolatorów oraz materiałów proszkowych i biologicznych.

Zastosowanie wymienionych technik badawczych pozwoli na poszukiwanie materiałów o nowych i niespotykanych

własnościach oraz udoskonalenie już istniejących.

Pracownia mikroskopii sił atomowych (AFM)

Mikroskop sił atomowych (AFM) z głowicą szybkoskanującą FastScan umożliwia prowadzenie badań powierzchni

materiałów półprzewodnikowych, metalicznych, izolatorów oraz próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku,

w zakresie temperatur od -35˚C do 250˚C. Głowice, w które jest on wyposażony dostarczają informacji na temat

topografii badanej powierzchni oraz wielkości takich jak: chropowatość, tarcie, adhezja, sprężystość, zdolność

przewodzenia prądu elektrycznego oraz pozwalają na określenie magnetycznych właściwości badanej powierzchni.

GŁÓWNE USŁUGI:

Tworzenie map powierzchniowych w nanoskali, uwzględniających takie właściwości jak: tarcie, adhezję,

sprężystość, chropowatość, rozkład ładunku elektrostatycznego, przewodność elektryczną, strukturę

domen magnetycznych czy przewodność termiczną

Obserwacja procesów zachodzących na badanej powierzchni w czasie rzeczywistym, w zakresie

temperatur od -35˚C do 250˚C.

Badanie topografii powierzchni (z wykorzystaniem dostępnych trybów pracy) próbek półprzewodni-

kowych, izolatorów, metalicznych oraz biologicznych o średnicy do 210 mm i wysokości 15 mm.

Badanie próbek biologicznych w ich naturalnym środowisku

LABORATORIUM BADAŃ STRUKTURYCIAŁA STAŁEGO07

Page 2: Laboratorium Badań Struktury Ciała Stałego

Mikroskop sił atomowych (AFM):

Głowica skanująca FastScan: umożliwia szybkie skanowanie w zakresie do 35 μm w osiach XY

oraz do ≤ 3 μm w osi Z, pracuje w zamkniętej pętli sprzężenia zwrotnego i posiada kompensowane

termicznie sensory tensometryczne. Obsługuje standardowo następujące tryby pracy: Peak Force

Tapping / Scan Asyst (w powietrzu lub w cieczach), Tapping Mode (w powietrzu oraz cieczach), Phase

Imaging, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic

Force Microscopy (EFM).

Głowica skanująca Dimension Icon XYZ Closed-Loop: umożliwia skanowanie w zakresie do 90 μm

w osiach XY oraz do ≤ 10 μm w osi Z, pracuje w trybie closed-loop z czujnikami kompensującymi dryf

termiczny w osiach X,Y oraz Z. Głowica obsługuje standardowo następujące tryby pracy: TappingMoge,

Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Phase Imaging, Nanomechanical Mapping, Peak Force QNM,

Torsional Resonance, Force Volume, Force Spectroscopy, Surface Potential, Piezo Response, Electrostatic

Force Microscopy (EFM), Magnetic Force Microscopy (MFM), Peak Force TUNA, CAFM – Conductive

AFM, SCM – Scanning Capacitance Microscopy.

WYPOSAŻENIE LABORATORIUM:

KONTAKT DO LABORATORIUM:

dr Rafał Szukiewicz – Kierownik Laboratorium Badań Struktury Ciała Stałego

e-mail: [email protected]

Absolwent Wydziału Fizyki i Astronomii Uniwersytetu Wrocławskiego – doktorat

ze specjalności Fizyka Doświadczalna. Przebywał na kilkuletnim stażu podoktorskim

na Uniwersytecie ULB w Brukseli na Wydziale Chemii Fizycznej Materiałów – Katalizy

i Trybologii. Obecnie kieruje Laboratorium Struktury Ciała Stałego Wrocławskiego

Centrum Badań EIT+. Jest wysoko wyspecjalizowany w technikach pomiarowych

stosowanych w fizyce powierzchni, takich jak: spektroskopia elektronów Augera (AES),

dyfrakcja powolnych elektronów (LEED), skaningowa mikroskopia tunelowa (STM),

mikroskopia sił atomowych (AFM), termoprogramowana desorpcja (TDS), spektroskopia elektronów rentgenowskich

i promieniowania ultrafioletowego (XPS/UPS), wysokociśnieniowa spektroskopia fotoelektronów rentgenowskich

(HPXPS) z wykorzystaniem promieniowania synchrotronowego, absorpcyjna spektroskopia rentgenowska (XAS).

tel.:+48 71 720 16 45 (w godzinach 8:00-16:00); e-mail: [email protected]

OBSŁUGA KLIENTA:

Projekt współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka

LABORATORIUM BADAŃ STRUKTURY

CIAŁA STAŁEGO 07