ANALIZA PROCESÓW WYGŁADZANIA I PODSTAWY NOWYCH METOD
-
Upload
forrester-brodie -
Category
Documents
-
view
48 -
download
0
description
Transcript of ANALIZA PROCESÓW WYGŁADZANIA I PODSTAWY NOWYCH METOD
©WK1 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
ANALIZA PROCESÓW WYGŁADZANIA I PODSTAWY NOWYCH METOD
Prof. dr hab. inż. Wojciech KacalakPolitechnika Koszalińska
ANALIZA PROCESÓW I PODSTAWY NOWYCH METOD WYGŁADZANIA
ELASTYCZNYMI NARZĘDZIAMI ŚCIERNYMI
O PODATNOŚCI ZRÓŻNICOWANEJ
LOKALNIE
XXXI NAUKOWA SZKOŁA OBRÓBKI ŚCIERNEJ
10-12.09.2008
©WK2 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
1. Ściernice podatne o spoiwie poliuretanowym, w odróżnieniu od innych podatnych narzędzi mają zwartą strukturę przestrzenną.
2. Ocenę podatności utwierdzenia ziaren przeprowadzono za pomocą metod statycznych i dynamicznych. Metody statyczne polegały na obciążeniu ziaren ściernych z wykorzystaniem różnych układów penetracji. Metody dynamiczne polegały na skrawaniu próbki płaskiej pochylonej pod niewielkim kątem pojedynczym ziarnem lub grupą ziaren ściernych.
3. Podatność utwierdzenia poszczególnych ziaren zależy od podatności materiału spoiwa, ale duży wpływ na jej zróżnicowanie w strefie obróbkowej wywiera ziarnistość narzędzia ściernego.
4. Poprzez zmianę topografii powierzchni czynnej można wpływać na podatność i naciski jednostkowe w strefie wygładzania.
5. Wielkość deformacji w strefie wygładzania ściernicy spoiwie poliuretanowym jest od 100 do 200 razy większa od odkształceń ściernicy o spoiwie ceramicznym.
WPROWADZENIE
©WK3 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
1. W pracach badawczych i modelach symulacyjnych dotyczących podatności utwierdzenia ziaren zamocowanych w spoiwie poliuretanowym nie uwzględniano typowej cechy tych narzędzi - zmiany wzajemnego położenia ziaren podczas obróbki wynikającej z lokalnych oddziaływań między ziarnami. W niniejszej pracy opracowano modele matematyczne opisujące oddziaływania między ziarnami w obszarze kontaktu narzędzia ściernego z powierzchnią przedmiotu.
2. Stosowane dotąd procesy wygładzania ściernicami podatnymi prowadzono z wykorzystaniem układu technologicznego, w którym płaszczyzna obrotu ściernicy jest ustawiona równolegle do kierunku posuwu wzdłużnego. W pracy wykazano korzyści procesu wygładzania z wykorzystaniem układu technologicznego, w którym płaszczyzna obrotu ściernicy jest ustawiona nierównoległe względem kierunku posuwu wzdłużnego przedmiotu obrabianego.
ZADANIA
©WK4 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Pierwszym celem pracy było określenie w jaki sposób lokalne zróżnicowanie podatności w postaci strefowego zróżnicowania makrogeometrii podatnego narzędzia ściernego może wpływać na właściwości sprężyste ściernic podatnych, efektywność procesu i wyniki wygładzania.
Drugim celem pracy było sprawdzenie czy zmiana orientacji płaszczyzny wirowania ściernicy w stosunku do kierunku ruchu posuwowego przedmiotu może zapewnić korzystniejszą topografię powierzchni charakteryzującej się niższą chropowatością.
CELE
©WK5 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >> 16
1. Cel (1) wynikał z faktu, iż w procesach wygładzania ściernego zmniejszenie udziału składowych nierówności o wysokich częstotliwościach oraz usuwanie składowych nierówności o niskich częstotliwościach, są zadaniami konkurencyjnymi względem siebie. Modyfikacja właściwości poprzez wprowadzenie nieciągłości, w postaci rowków na czynnej powierzchni ściernic zwiększa lokalnie zarówno podatność jak i naciski jednostkowe w strefie wygładzania, co pozwala na uzyskanie powierzchni o niższej chropowatości z zachowaniem określonej wydajności obróbki.
2. Cel (2) wynikał ze stwierdzenia, iż odchylenie kierunku posuwu wzdłużnego przedmiotu od płaszczyzny prostopadłej do osi obrotu ściernicy, w procesie wygładzania podatnymi narzędziami ściernymi, pozwala na uzyskanie korzystniejszej topografii powierzchni wskutek zmniejszenia tendencji do tworzenia długich nieregularnych rys, a przez to, umożliwia uzyskanie struktury geometrycznej powierzchni o większej regularności i niższej chropowatości.
CELE
©WK6 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Ilustracja do celu 2
ODWZOROWANIESUMARYCZNEGO
ZARYSUŚCIERNICY
„OBWIEDNIA”PRZESUNIĘTYCH
W KIERUNKU OSIOWYMZ MAŁYM KROKIEMSUMARYCZNYCH
ZARYSÓWŚCIERNICY
©WK7 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
azi – zagłębienie ostrza [um],
yi – przemieszczenie ostrza [um],
h – dosuw ściernicy do przedmiotu obrabianego [mm],
y(x) – funkcja zarysu powierzchni obrabianej [um],
Pzi – składowa normalna siły nacisku [N],
xyhrhrh2xr aaCC o
22
o2izi
mm2zi
m2i
212
MODEL
©WK10 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Wyniki modelowania dla niewielkich oddziaływań między ziarnami
©WK11 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Wyniki modelowania dla silnych oddziaływań między ziarnami
©WK12 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Naprężenia w wirującej ściernicy
©WK13 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
10 20 30 40 50 60
Odległość od osi obrotu ściernicy - lr [mm]
0,0
0,1
0,2
0,3
0,4
0,5
0,6
0,7
0,8
0,9
1,0
Roz
kład
nap
ręże
ń no
rmal
nych
[M
Pa]
vs = 5 [m/s];vs = 10 [m/s];vs = 15 [m/s];vs = 20 [m/s];
vs = 5 [m/s]
vs = 10 [m/s]
vs = 15 [m/s]
vs = 20 [m/s]
10 20 30 40 50 60
Odległość od osi obrotu ściernicy - lr [mm]
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
2,2
2,4
Roz
kład
nap
ręże
ń s
tycz
nych
[M
Pa]
vs = 5 [m/s]; vs = 10 [m/s]; vs = 15 [m/s]; vs = 20 [m/s];
vs = 5 [m/s]
vs = 10 [m/s]
vs = 15 [m/s]
vs = 20 [m/s]
D = 125 [mm]; d = 20 [mm];
Zmiany naprężeń w kierunku promieniowym
©WK14 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17
Prędkość obwodowa ściernicy - vs [m/s]
0,0
0,1
0,2
0,3
0,4
0,5
0,6
0,7
Prz
yro
st p
rom
ien
ia ś
cie
rnic
y - Δ
r [m
m]
280P
280E
500E
500P
360E
360P
Watości odkształceń promieniowych: Ściernica 280P Ściernica 360P Ściernica 500P Ściernica 280E Ściernica 360E Ściernica 500E
Przyrost promienia ściernicy (wyznaczony eksperymentalnie)
©WK15 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
kz = 5 [N/mm], cz = 0,0004 [N·s/mm]
0,00 0,05 0,10 0,15 0,20 0,25 0,30 0,35
Czas styku ostrza z materiałem obrabianym - ts [ms]
-0,06
-0,05
-0,04
-0,03
-0,02
-0,01
0,00
0,01
0,02
0,03
Odl
egło
ść o
d po
wie
rzch
ni [
mm
]
Tor nominalny ostrza - yn [mm]; Zarys powierzchni obrabianej - yp [mm]; Zarys powierzchni obrabianej po kontakcie z ostrzem skrawajacym - y [mm];
Tor ostrza z uwzględnieniem tłumienia
©WK16 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
ELEMENTY SKŁADOWE SYSTEMU SYMULACJI
• Moduł parametrów wejściowych procesu wygładzania ściernego,
• Moduł generowania powierzchni ziaren ściernych,
• Moduł generowania powierzchni ściernicy,
• Moduł określenia cech kinematycznych procesu wygładzania ściernego,
• Moduł kształtowania obrabianej powierzchni,
• Moduł graficznej prezentacji wyników symulacji.
System symulacji procesu wygładzania
©WK17 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Numer ziarnistości ściernicy: 180
Numer ziarnistości ściernicy: 360
Modele powierzchni ściernicy
©WK18 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Nominalna, chwilowa powierzchnia oddziaływania ściernicy
©WK19 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Proces z niewielkimi wypływkamina bokach śladu mikroskrawania
Wyniki symulacji procesu wygładzania
Proces ze znacznymi wypływkami
©WK20 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
XiYj
Z(Xi, Yj)
Rysunek poglądowy do typowej metody wygładzania
©WK21 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
YjXi
Z(Xi, Yj)
Rysunek poglądowy do nowej metody wygładzania
©WK22 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
ZAKRES BADAŃ DOŚWIADCZALNYCH OBEJMOWAŁ:
• BADANIA DOKŁADNOŚCI WYMIAROWEJ I KSZTAŁTOWEJ ŚCIERNIC O SPOIWIE POLIURETANOWYM
• BADANIA ODKSZTAŁCEŃ PROMIENIOWYCH ŚCIERNIC PODCZAS WIROWANIA,
• BADANIA WŁAŚCIWOŚCI SPRĘŻYSTYCH ŚCIERNIC PODATNYCH O POWIERZCHNI CIĄGŁEJ I STREFOWO ZRÓŻNICOWANEJ PODATNOŚCI,
• BADANIA PODATNOŚCI UTWIERDZENIA POJEDYNCZYCH ZIAREN I GRUPY ZIAREN ŚCIERNYCH,
• BADANIA PODATNOŚCI UTWIERDZENIA POJEDYNCZYCH ZIAREN ŚCIERNYCH I GRUPY ZIAREN ŚCIERNYCH W STREFIE KONTAKTU ŚCIERNICY Z PRZEDMIOTEM,
• BADANIA PROCESU SKRAWANIA POJEDYNCZYM ZIARNEM ŚCIERNYM UTWIERDZONYM W KORPUSIE ŚCIERNICY PODATNEJ,
• BADANIA PROCESU WYGŁADZANIA PODATNYMI NARZĘDZIAMI ŚCIERNYMI O POWIERZCHNI CIĄGŁEJ I STREFOWO ZRÓŻNICOWANEJ PODATNOŚCI W RÓŻNYCH UKŁADACH TECHNOLOGICZNYCH.
Zakres badań
©WK23 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
1 – Ściernica podatna (bez rowków) oznaczona symbolem C, szerokość strefy styku Hsc = 20 mm
2- Ściernica z naciętymi rowkami wzdłuż tworzącej ściernicy (NC), Hsc = 10 mm
3 - Ściernica (bez rowków) oznaczona symbolem C, Hsc = 5 mm
4- Ściernica z naciętymi rowkami wzdłuż tworzącej ściernicy (NC), Hsc = 20 mm
Odmiany makrotopografii powierzchni czynnej ściernicy
©WK25 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
1 – penetrator igłowy;
2 – penetrator stożkowy;
3 – penetrator płaski;
Badania podatności lokalnej
©WK26 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1
Dosuw pionowy penetratora pomiarowego - hzs [mm]
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
Siła
nac
isku
na
grup
ę zi
aren
ści
erny
ch -
Pzs
[N]
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Nac
iski
w s
tref
ie s
tyku
- qz
s [M
Pa]
1
12
2
500 E
500 PPENETRATOR PŁASKIPole styku: Azs = 1,77 [mm 2]1 - Obciążenie ziaren (nacisk)2 - Odciążenie ziaren (powrót)
Cecha ściernicy: 500E Cecha ściernicy: 500P
0 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1
Dosuw pionowy penetratora pomiarowego - hzs [mm]
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
Siła
nac
isku
na
ziar
no ś
cier
ne -
Pzs
[N]
0
40
80
120
160
200
240
280
320
360
400
Nac
iski
w s
tref
ie s
tyku
- qz
s [M
Pa]
1
1
2
2
500 E
500 P
PENETRATOR IGŁOWYPole styku: Azs = 0,05 [mm 2]1 - Obciążenie ziarna (nacisk)2 - Odciążenie ziarna (powrót)
Cecha sciernicy: 500E Cecha ściernicy: 500P
A) POJEDYNCZE ZIARNO ŚCIERNE B) GRUPA ZIAREN ŚCIERNYCH
Wyniki badań podatności
©WK27 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Pole styku z penetratorem płaskim
Pole styku z penetratorem igłowym
CECHA ŚCIERNICY: 280E
Pola styku
©WK28 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
CECHA ŚCIERNICY: 280E
OBSZAR KONTAKTU ŚCIERNICY Z PENETRATOREM IGŁOWYM
©WK29 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
CECHA ŚCIERNICY: 280E
OBSZAR KONTAKTU Z PENETRATOREM PŁASKIM
©WK30 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
DOSUW PIONOWY PENETRATORA hzs = 1 mm (E = 10 MPa, = 0,49)
ROZKŁAD PRZEMIESZCZEŃ PIONOWYCH ZIAREN ŚCIERNYCH Z WYKORZYSTANIEM PROGRAMU ANSYS
©WK31 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0 8 16 24 32 40 48 56 64 72 80 88
Szerokość ostrza skrawającego - bo [um]
-0,032
-0,03
-0,028
-0,026
-0,024
-0,022
-0,02
-0,018
-0,016
-0,014
-0,012
-0,01
-0,008
-0,006
-0,004
-0,002
0
Wysokość o
str
za s
kraw
ają
cego -
ho [m
m]
Fotografia ostrza zamocowanego w korpusie ściernicy podatnej oznaczonej symbolem 220E
BADANIA PROCESU SKRAWANIA POJEDYNCZYM ZIARNEM ŚCIERNYM UTWIERDZONYM W KORPUSIE ŚCIERNICY PODATNEJ
©WK32 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
7.10.4.1. FOTOGRAFIA CAŁEGO ŚLADU SKRAWANIA (STAL 1H18N9T, 220E)
ŚLAD SKRAWANIA
©WK33 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
STREFA ŚRODKOWA ŚLADU (STAL 1H18N9T, 220E)
Strefa środkowa
©WK34 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
STREFA WYJŚCIA ZIARNA (STAL 1H18N9T, 220E)
©WK35 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
Dosuw ściernicy do przedmiotu obrabianego - gsc [mm]
0,00,10,20,30,40,50,60,70,80,91,01,11,21,31,41,51,61,71,81,92,02,12,22,32,42,5
Ra [
um
] (lin
ia c
iągła
)
0,01
0,02
0,03
0,040,050,060,070,080,090,10
0,20
0,30
0,400,500,600,700,800,901,00
2,00
Wsk
aźn
ik R
ap/R
asz
(lin
ia k
resk
ow
ana)
Ściernica 500E (C0)Linia ciągła - Parametr RaLinia kreskowana - Wskaźnik Rap/Rasz
Materiał: STAL 45 Materiał: STAL 1H18N9T Materiał: ALUMINIUM PA11
WPŁYW DOSUWU ŚCIERNICY DO PRZEDMIOTU OBRABIANEGO NA CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI WYGŁADZANEJ
©WK36 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
Dosuw ściernicy do przedmiotu obrabianego - gsc [mm]
0,00,10,20,30,40,50,60,70,80,91,01,11,21,31,41,51,61,71,81,92,02,12,22,32,42,5
Ra
[u
m]
(lin
ia c
iągła
)
0,01
0,02
0,03
0,040,050,060,070,080,090,10
0,20
0,30
0,400,500,600,700,800,901,00
2,00
Wskaźn
ik R
ap/R
asz (
linia
kre
sko
wan
a)
Ściernica 500E (NC0)Linia ciągła - Parametr RaLinia kreskowana - Wskaźnik Rap/Rasz
Materiał: STAL 45 Materiał: STAL 1H18N9T Materiał: ALUMINIUM PA11
WPŁYW DOSUWU ŚCIERNICY DO PRZEDMIOTU OBRABIANEGO NA CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI WYGŁADZANEJ
©WK37 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
WYNIKI BADAŃ DOŚWIADCZALNYCH PROCESU WYGŁADZANIA ŚCIERNICAMI PODATNYMI O SPOIWIE POLIURETANOWYM
©WK38 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Lepsze efekty technologiczne uzyskano stosując ściernice podatne o powierzchni nieciągłej oznaczonej symbolem NC.
Zróżnicowanie strefowe podatności narzędzia ściernego zmniejsza obszar kontaktu narzędzia z przedmiotem oraz zmniejsza się również liczba ziaren ściernych kontaktujących się z materiałem obrabianym.
Towarzyszy temu wzrost nacisków jednostkowych oraz wzrost lokalnej podatności narzędzia ściernego w strefie pracy ściernicy podatnej, co przy zachowaniu porównywalnych właściwości skrawnych ostrzy powoduje zmniejszenie chropowatości oraz zwiększenie średniej wartości refleksyjności powierzchni.
WNIOSKI
©WK39 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
7.12.1.1. FOTOGRAFIA UKŁADU TECHNOLOGICZNEGO K45
UKŁAD K45
©WK40 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
Dosuw ściernicy do przedmiotu obrabianego - gsc [mm]
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
2,2
2,4
2,6
2,8
3,0
3,2
3,4
3,6
3,8
4,0R
a [
um
] (lin
ia c
iągła
)
0,01
0,02
0,03
0,040,050,060,070,080,090,10
0,20
0,30
0,400,500,600,700,800,901,00
2,00
Wsk
aźnik
Rap/R
asz
(lin
ia k
resk
ow
ana)
Ściernica 500E (K0) Lina ciągła - Parametr RaLinia kreskowana - Wskaźnik Rap/Rasz
Materiał: STAL 45 Material: STAL 1H18N9T Materiał: Aluminium PA11
WPŁYW DOSUWU ŚCIERNICY DO PRZEDMIOTU OBRABIANEGO NA CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI WYGŁADZANEJ
©WK41 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
Dosuw ściernicy do przedmiotu obrabianego - gsc [mm]
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
2,2
2,4
2,6
2,8
3,0
3,2
3,4
3,6
3,8
4,0R
a [
um
] (lin
ia c
iągła
)
0,01
0,02
0,03
0,040,050,060,070,080,090,10
0,20
0,30
0,400,500,600,700,800,901,00
2,00
Wsk
aźn
ik R
ap/R
asz
(lin
a k
resk
ow
ana)
Ściernica 500E (K45)Linia ciągła - Parametr RaLinia kreskowana - Wskaźnik Rap/Rasz
Material: STAL 45 Material: STAL 1H18N9T Materiał: ALUMINIUM PA11
WPŁYW DOSUWU ŚCIERNICY DO PRZEDMIOTU OBRABIANEGO NA CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI WYGŁADZANEJ
K45
©WK42 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0
Dosuw ściernicy do przedmiotu - gsc [mm]
0,0
0,2
0,4
0,6
0,8
1,0
1,2
1,4
1,6
1,8
2,0
2,2
2,4
2,6
2,8
3,0
3,2
3,4
3,6
3,8
4,0 R
a [
um
] (lin
ia c
iągła
)
0,01
0,02
0,03
0,040,050,060,070,080,090,10
0,20
0,30
0,400,500,600,700,800,901,00
2,00
Wskaźn
ik R
ap/R
asz
(lin
ia k
reskow
ana)
Ściernica 500P (K45)Linia ciagła - Parametr RaLinia kreskowana - Wskaźnik Rap/Rasz
Materiał: STAL45 Materiał: STAL 1H18N9T Materiał: ALUMINIUM PA11
WPŁYW DOSUWU ŚCIERNICY DO PRZEDMIOTU OBRABIANEGO NA CHROPOWATOŚĆ POWIERZCHNI WYGŁADZONEJ
©WK43 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
7.12.3.1. FOTOGRAFIA UKŁADU TECHNOLOGICZNEGO K90
UKŁAD K90
©WK44 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
CECHA ŚCIERNICY
MATERIAŁ
OBRABIANY
UKŁAD TECHNOLOGICZNY
CO NC0 K45
500E
STAL 45 0,153 [um] 0,351 [um] 0,0697 [um]
STAL 1H18N9T
0,153 [um] 0,134 [um] 0,0554 [um]
500P
STAL 45 0,0725 [um] 0,0944 [um] 0,0590 [um]
STAL 1H18N9T
0,0690 [um] 0,0707 [um] 0,0496 [um]
WARTOŚĆ PARAMETRU Sa CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI WYPOLEROWANYCH ŚCIERNICAMI PODATNYMI O SPOIWIE POLIURETANOWYM
Sa m
©WK45 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
Odwrotność dlugości składowej harmonicznej zarysu [1/mm]
0,000
0,002
0,004
0,006
0,008
0,010
0,012
0,014
0,016
0,018
0,020
0,022
0,024
0,026
0,028
0,030
0,032
0,034
0,036
0,038
0,040
Wysokość s
kła
dow
ej harm
onic
znej zary
su [
um
]
Materiał: Stal 1H18N9T Ściernica 500E (C0) Ściernica 500E (NC0) Ściernica 500E (K45)
CHARAKTERYSTYKA CZĘSTOTLIWOŚCIOWA ZARYSÓW POWIERZCHNI STALI 1H18N9T WYGŁADZONEJ ŚCIERNICĄ PODATNĄ 500E
Porównanie efektów wygładzania
©WK46 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,2 2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4 3,6 3,8 4,0
Długość składowej harmonicznej zarysu [mm]
0,0
0,1
0,2
0,3
0,4
0,5
0,6
0,7
0,8
0,9
1,0
1,1
1,2
1,3
1,4
1,5
1,6
1,7
1,8
1,9
2,0
Współc
zynnik
zm
nie
jszenia
wysokości skła
dow
ej harm
onic
znej zary
su
(NC0)/(C0)
(K90)/(C0)
(K45)/(C0)
Materiał: Stal 45 Ściernica 500E (NC0) / Ściernica 500E (C0) Ściernica 500E (K45) / Ściernica 500E (C0) Ściernica 500E (K90) / Ściernica 500E (C0)
WPŁYW UKŁADU TECHNOLOGICZNEGO NC0, K45, K90 NA ZMNIEJSZENIE WYSOKOŚCI SKŁADOWEJ HARMONICZNEJ ZARYSU
Porównanie efektów
©WK47 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
0,0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4 1,6 1,8 2,0 2,2 2,4 2,6 2,8 3,0 3,2 3,4 3,6 3,8 4,0
Długość składowej harmonicznej zarysu [mm]
0,00
0,01
0,02
0,03
0,04
0,05
0,06
0,07
0,08
0,09
0,10
0,11
0,12
0,13
0,14
0,15
0,16
0,17
0,18
0,19
0,20
Współc
zynnik
zm
nie
jszenia
wysokości skła
dow
ej harm
onic
znej zary
su
C0/S
NC0/S
K45/S
Materiał: Stal 1H18N9TŚciernica 500E (C0) / Ściernica SŚciernica 500E (NC0) / Ściernica SŚciernica 500E (K45)/ Ściernica S
WPŁYW UKŁADU TECHNOLOGICZNEGO C0, NC0, K45 NA ZMNIEJSZENIE WYSOKOŚCI SKŁADOWEJ HARMONICZNEJ ZARYSU
W porównaniu do powierzchni przed wygładzaniem
©WK48 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Najskuteczniejsze usuwanie składowych harmonicznych zarysu o największych amplitudach do 0,04 μm i długościach fali od 0,8 do 4 mm wykazują ściernice, w których płaszczyzna wirowania jest prostopadła lub ustawiona pod znacznym kątem (w badaniach 45°) względem kierunku posuwu, co potwierdzają wyniki symulacji matematycznych.
Pozytywne efekty takiego układu obróbkowego wynikają z tego, że zarys powierzchni przedmiotu powstaje nie jako odwzorowanie odkształconej powierzchni ściernicy, lecz jako obwiednia bardzo dużej liczby gęsto ułożonych (przesuniętych z bardzo małym krokiem) zarysów odkształconej powierzchni narzędzia.
WNIOSKI DOTYCZĄCE BADAŃ DOŚWIADCZALNYCH PROCESU WYGŁADZANIA ŚCIERNICAMI PODATNYMI O SPOIWIE POLIURETANOWYM
©WK49 e a
Wyłączono nadzorowanie zdarzeń <<
09.09.2008 51Start<< >>
Na podstawie analizy wyników badań można stwierdzić, iż:
1. Stosując układ technologiczny K45 można uzyskać powierzchnie o niskiej chropowatości.
2. Zastosowanie układu technologicznego K90 zwiększa refleksyjność powierzchni wygładzonej ściernicami podatnymi
o spoiwie poliuretanowym.
PODSUMOWANIE