Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony:

Post on 12-Jan-2016

37 views 0 download

description

Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie. Wykształcenie: od 2006 r. –uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko - PowerPoint PPT Presentation

Transcript of Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony:

Mgr inż. Dariusz ZałęskiMgr inż. Dariusz Załęski

Katedra Optoelektroniki i Systemów Katedra Optoelektroniki i Systemów

ElektronicznychElektronicznych

Urodzony: Urodzony:

30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko-30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko-

mazurskie.mazurskie.

Wykształcenie:Wykształcenie: od 2006 r. od 2006 r. –– uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, uczestnik Studium Doktoranckiego WETI,

promotor prof. dr inż. Romuald Zielonkopromotor prof. dr inż. Romuald Zielonko 1998 r. – 2004 r.1998 r. – 2004 r. –– Politechnika Gdańska, Wydział ElektronikiPolitechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, specjalnośćTelekomunikacji i Informatyki, specjalność

Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne.Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne.Praca dyplomowa pt. „WbudowanyPraca dyplomowa pt. „Wbudowanymikroserwer TCP/IP...” została wyróżniona mikroserwer TCP/IP...” została wyróżniona

1Dariusz Załęski, KOSE

PublikacjePublikacje

Liczba publikacji wydanych: 3Liczba publikacji wydanych: 3 2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny 1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej

Jedna publikacja przyjęta na konferencję Jedna publikacja przyjęta na konferencję Instrumentation AndInstrumentation And Measurement Technology ConferenceMeasurement Technology Conference 2007 2007

Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej:Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej: Czaja Z., Załęski D.: Czaja Z., Załęski D.: Implementation of input-output method Implementation of input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systemsof diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems. . Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungaryon Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungary Czaja ZCzaja Z.., Za, Załęłęski Dski D..: : Diagnostyka czDiagnostyka częśęści ci aanalogowej nalogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytegomodelowania rozmytego. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI . Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki GdaPolitechniki Gdańńskiejskiej, 2006., 2006.

2Dariusz Załęski, KOSE

Temat pracy:Temat pracy:

„„Autodiagnostyka elektronicznych systemówAutodiagnostyka elektronicznych systemów wbudowanych wbudowanych mieszanych sygnamieszanych sygnałłowo owo śśrodkamirodkami zasobów sprzzasobów sprzęętowychtowych i i progra progra--mowychmowych mikrokontrolera sterujmikrokontrolera sterująącego”cego”

Teza pracy: Teza pracy:

ŚŚrodki sprzrodki sprzęętowe i moc obliczeniowtowe i moc obliczeniowaa mikrokontrolerów nowej mikrokontrolerów nowej generacji stosowanych w systemach wbudowanych sgeneracji stosowanych w systemach wbudowanych sąą wystarczajwystarczająące do autodiagnostyki systemu,ce do autodiagnostyki systemu, a zwa zwłłaszcza jego aszcza jego czczęśęści analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logikci analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logikąą rozmytrozmytąą upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodze upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodzeńń realnych realnych ukukłładów z uwzgladów z uwzglęędnieniem tolerancji ich elementów skdnieniem tolerancji ich elementów skłładowych.adowych.

Cel pracy: Cel pracy:

OOpracowanie, przebadanie symulacyjne i dopracowanie, przebadanie symulacyjne i dośświadczalne oraz wiadczalne oraz implementacja nowych metod i procedur testowania umoimplementacja nowych metod i procedur testowania umożżlili--wiajwiająących autodiagnostykcych autodiagnostykęę cz częśęści analogowych elektronicznych ci analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzsystemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzę-ę-towych i programowych mikrokontrolerów sterujtowych i programowych mikrokontrolerów sterująących.cych.

3Dariusz Załęski, KOSE

4Dariusz Załęski, KOSE

Plan pracy doktorskiejPlan pracy doktorskiej

1.1. WprowadzenieWprowadzenie

1.11.1 Wprowadzenie i sformułowanie problemuWprowadzenie i sformułowanie problemu

1.21.2 Cel i teza pracyCel i teza pracy

2.2. Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze-Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze-strzeniach wielowymiarowychstrzeniach wielowymiarowych

2.12.1 Uwarunkowania metod pomiarowych wynikajUwarunkowania metod pomiarowych wynikająące z ograniczonychce z ograniczonychzasobów sprzzasobów sprzęętowych mikrokontroleratowych mikrokontrolera

2.22.2 Klasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowychKlasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowych

2.32.3 Metody bazujMetody bazująące na próbkowaniu sygnace na próbkowaniu sygnałłu odpowiedzi układuu odpowiedzi układu

2.42.4 Implementacja i badania metod w systemie eksperymentalnymImplementacja i badania metod w systemie eksperymentalnym

3.3. Diagnostyka ukDiagnostyka ukłładów z tolerancjadów z tolerancjąą przy wykorzystaniu mikrokontrolera przy wykorzystaniu mikrokontrolera z logikz logikąą rozmyt rozmytąą

4.4. Zastosowanie sygnaZastosowanie sygnałłów komplementarnych do autodiagnostyki uków komplementarnych do autodiagnostyki ukłładów adów

mieszanych sygnamieszanych sygnałłowo. owo.

5.5. Wnioski koWnioski końńcowe cowe

6.6. Bibliografia Bibliografia

5Dariusz Załęski, KOSE