Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony:

5
Mgr inż. Dariusz Załęski Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Elektronicznych Urodzony: Urodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie. mazurskie. Wykształcenie: Wykształcenie: od 2006 r. od 2006 r. uczestnik Studium Doktoranckiego uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, WETI, promotor prof. dr inż. promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko Romuald Zielonko 1998 r. – 2004 r. 1998 r. – 2004 r. Politechnika Gdańska, Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, Telekomunikacji i Informatyki, specjalność specjalność Skomputeryzowane Systemy Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne. Elektroniczne. Praca dyplomowa pt. „Wbudowany Praca dyplomowa pt. „Wbudowany 1 Dariusz Załęski, KOSE

description

Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony: 30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko- mazurskie. Wykształcenie: od 2006 r. –uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, promotor prof. dr inż. Romuald Zielonko - PowerPoint PPT Presentation

Transcript of Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych Urodzony:

Page 1: Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów  Elektronicznych Urodzony:

Mgr inż. Dariusz ZałęskiMgr inż. Dariusz Załęski

Katedra Optoelektroniki i Systemów Katedra Optoelektroniki i Systemów

ElektronicznychElektronicznych

Urodzony: Urodzony:

30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko-30.08.1979 w Szczytnie, woj. warmińsko-

mazurskie.mazurskie.

Wykształcenie:Wykształcenie: od 2006 r. od 2006 r. –– uczestnik Studium Doktoranckiego WETI, uczestnik Studium Doktoranckiego WETI,

promotor prof. dr inż. Romuald Zielonkopromotor prof. dr inż. Romuald Zielonko 1998 r. – 2004 r.1998 r. – 2004 r. –– Politechnika Gdańska, Wydział ElektronikiPolitechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, specjalnośćTelekomunikacji i Informatyki, specjalność

Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne.Skomputeryzowane Systemy Elektroniczne.Praca dyplomowa pt. „WbudowanyPraca dyplomowa pt. „Wbudowanymikroserwer TCP/IP...” została wyróżniona mikroserwer TCP/IP...” została wyróżniona

1Dariusz Załęski, KOSE

Page 2: Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów  Elektronicznych Urodzony:

PublikacjePublikacje

Liczba publikacji wydanych: 3Liczba publikacji wydanych: 3 2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny2 artykuły konferencyjne w tym 1 zagraniczny 1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej1 praca w Zeszytach Naukowych Politechniki Gdańskiej

Jedna publikacja przyjęta na konferencję Jedna publikacja przyjęta na konferencję Instrumentation AndInstrumentation And Measurement Technology ConferenceMeasurement Technology Conference 2007 2007

Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej:Publikacje związane z tematyką pracy doktorskiej: Czaja Z., Załęski D.: Czaja Z., Załęski D.: Implementation of input-output method Implementation of input-output method of diagnosis of analog electronic circuits in embedded systemsof diagnosis of analog electronic circuits in embedded systems. . Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference Proceedings of the 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungaryon Technical Diagnostics: 9–10 June, 2005, Budapest, Hungary Czaja ZCzaja Z.., Za, Załęłęski Dski D..: : Diagnostyka czDiagnostyka częśęści ci aanalogowej nalogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytegomodelowania rozmytego. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI . Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki GdaPolitechniki Gdańńskiejskiej, 2006., 2006.

2Dariusz Załęski, KOSE

Page 3: Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów  Elektronicznych Urodzony:

Temat pracy:Temat pracy:

„„Autodiagnostyka elektronicznych systemówAutodiagnostyka elektronicznych systemów wbudowanych wbudowanych mieszanych sygnamieszanych sygnałłowo owo śśrodkamirodkami zasobów sprzzasobów sprzęętowychtowych i i progra progra--mowychmowych mikrokontrolera sterujmikrokontrolera sterująącego”cego”

Teza pracy: Teza pracy:

ŚŚrodki sprzrodki sprzęętowe i moc obliczeniowtowe i moc obliczeniowaa mikrokontrolerów nowej mikrokontrolerów nowej generacji stosowanych w systemach wbudowanych sgeneracji stosowanych w systemach wbudowanych sąą wystarczajwystarczająące do autodiagnostyki systemu,ce do autodiagnostyki systemu, a zwa zwłłaszcza jego aszcza jego czczęśęści analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logikci analogowej. Zastosowanie mikrokontrolerów z logikąą rozmytrozmytąą upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodze upraszcza procedury autodiagnostyki uszkodzeńń realnych realnych ukukłładów z uwzgladów z uwzglęędnieniem tolerancji ich elementów skdnieniem tolerancji ich elementów skłładowych.adowych.

Cel pracy: Cel pracy:

OOpracowanie, przebadanie symulacyjne i dopracowanie, przebadanie symulacyjne i dośświadczalne oraz wiadczalne oraz implementacja nowych metod i procedur testowania umoimplementacja nowych metod i procedur testowania umożżlili--wiajwiająących autodiagnostykcych autodiagnostykęę cz częśęści analogowych elektronicznych ci analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzsystemów wbudowanych, przy wykorzystaniu zasobów sprzę-ę-towych i programowych mikrokontrolerów sterujtowych i programowych mikrokontrolerów sterująących.cych.

3Dariusz Załęski, KOSE

Page 4: Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów  Elektronicznych Urodzony:

4Dariusz Załęski, KOSE

Plan pracy doktorskiejPlan pracy doktorskiej

1.1. WprowadzenieWprowadzenie

1.11.1 Wprowadzenie i sformułowanie problemuWprowadzenie i sformułowanie problemu

1.21.2 Cel i teza pracyCel i teza pracy

2.2. Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze-Metody diagnostyczne bazujące na krzywych identyfikacyjnych w prze-strzeniach wielowymiarowychstrzeniach wielowymiarowych

2.12.1 Uwarunkowania metod pomiarowych wynikajUwarunkowania metod pomiarowych wynikająące z ograniczonychce z ograniczonychzasobów sprzzasobów sprzęętowych mikrokontroleratowych mikrokontrolera

2.22.2 Klasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowychKlasa transmitancyjnych metod amplitudowo-fazowych

2.32.3 Metody bazujMetody bazująące na próbkowaniu sygnace na próbkowaniu sygnałłu odpowiedzi układuu odpowiedzi układu

2.42.4 Implementacja i badania metod w systemie eksperymentalnymImplementacja i badania metod w systemie eksperymentalnym

3.3. Diagnostyka ukDiagnostyka ukłładów z tolerancjadów z tolerancjąą przy wykorzystaniu mikrokontrolera przy wykorzystaniu mikrokontrolera z logikz logikąą rozmyt rozmytąą

4.4. Zastosowanie sygnaZastosowanie sygnałłów komplementarnych do autodiagnostyki uków komplementarnych do autodiagnostyki ukłładów adów

mieszanych sygnamieszanych sygnałłowo. owo.

5.5. Wnioski koWnioski końńcowe cowe

6.6. Bibliografia Bibliografia

Page 5: Mgr inż. Dariusz Załęski Katedra Optoelektroniki i Systemów  Elektronicznych Urodzony:

5Dariusz Załęski, KOSE