TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Wykad 3 16.03.2005 wymagania rodowiskowe i testyNiewakoPrnia problemy mechaniczne i cieplne,Naraenia mechaniczne,Radiacja i jego wpyw na elementy elektronicznePrzerwaTesty wytrzymaociowe,Testy cieplne w komorach prniowych,Testy EMC,Clean-room,Aparatura MGSE i EGSE,Bazy danych sucych do testw i pniejszego sterowania aparatur,Przerwa,Interaktywna prba zaprojektowania urzdzenia na przykadzie penetratora w misji Rosetta.

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Niewako i problemy zwizane z odksztcaniem si konstrukcji mechanicznych oraz rozjustowywaniem elementw optycznych.PFS OPFS SPFS S Fxation Plane40 from PFS O Optical EntranceNadirPFS Optical BeamS/C Secondary Structure

Prnia problemy mechaniczneTribology for Spacecraft - kurs organizowany przez European Space Tribology Laboratory,Stress corrosion - ESA PSS 01-737,Flammability - ESA PSS 01-721,Offgasing and toxic analysis ESA PSS 01-729,Guideliness for materials selection - ESA PSS 01-701.Materials selection for controlling stress-corrosion craking - ESA PSS 01-736,i wiele, wiele innychGazowanie materiaw,Dobr materiaw, dobr pokrySklejanie si wzajemnie kontaktujcych si ze sob powierzchni,Inne charakterystyki wspczynnika tarcia,Problemy zwizane ze smarowaniem,Problemy zwizane z ruchomymi kontaktami elektrycznymi - np.. brak odpowiednika grafitu uywanego w silnikach komutatorowych Ochrona materiaw przed korozj w czasie testw na Ziemi,TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Prnia problemy cieplneNagrzewanie przez Soce, staa soneczna 1367W/m2Chodzenie poprzez wypromieniowanie w przestrze kosmiczn, szcztkowe promieniowanie mokrofalowe odpowiadajce temperaturze 2.7KWewntrzne rda energii:Akumulatory,ogniwa jdrowe,baterie soneczne.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Prnia problemy cieplneMetody stabilizacji temperatury satelity i aparatury na nim umieszczonej:Obrt satelity,Naturalny transfer ciepa ze strony oswietlonej na stron zaciemnion,Wymuszony transfer ciepa ze strony owietlonej na stron zaciemnion,Dodatkowe radiatory umieszczane po stronie zaciemnionej,Podgrzewanie niektrych fragmentw satelity i czci aparatury,Powoki odbijajce lub zaczernianie powierzchni,Specjalne warstwy izolacyjne (Multi Layer Isolation).Typowe temperatury pracy aparatury dobrze poczonej termicznie z satelit:Integral, Cluster, SMART1 (okooziemskie) min.-15oC, max. 40oC,Mars Express min.-10oC, max. 40oC, skaner pracujcy czciowo w otwartej przestrzeni min.-20oC, max. 50oCHerschel, Planck - min.-25oC, max. 40oC,Rosetta (ldownik na komecie) - min.-160oC, max. 80oC.Typowe temperatury pracy elementw wysunitych daleko od satelity zakres temperatur od kilkudziesiciu Kelwinw do okoo trzystu KelwinwThermal vacuum - ESA PSS 01-702,Thermal cycling - ESA PSS 01-704,TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Naraenia mechaniczneWibracje i efekty akustyczne wystpuj przede wszystkim w czasie startu. Wywoane s:odbiciem si fali dwikowej od platformy startowej,dziaaniem gwnych i pomocniczych silnikw rakiety,turbulencjami zwizanymi z przechodzeniem rakiety przez kolejne warstwy atmosfery.

W czasie startu i po osigniciu orbity (koniec pracy ostatniego stopnia) naley liczy si z efektami wywoanymi odpalaniem adunkw pirotechnicznych - odczanie si kolejnych stopni, otwarcie kapsuy, odczenie si satelity, otwieranie niektrych mechanizmw.

Manewrowanie na orbicie z reguy nie stanowi problemu dla aparatury (wyjtki - czujniki mikrograwitacji, mechanizmy o duej bezwadnoci) TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Promieniowanie kosmiczne (galaktyczne) to gwnie protony o energiach 1Mev do 1GeV (86%), czstki alfa (13%), jdra pierwiastkw ciszych, elektrony i kwanty gamma o energiach dochodzcych do 108GeV. Wiatr soneczny to gwnie strumie protonw zmieniajcy si wraz ze zmianami aktywnoci Soca (nawet o 5 do 7 rzdw wielkoci). Elektrony i protony oraz inne, naadowane czstki wystpujce w promieniowaniu kosmicznym i majce z reguy du energi stanowi powany problem wystpujcy przy projektowaniu aparatury pomiarowej:Przy bardzo duych dawkach napromieniowania mog wystpowa defekty struktury krystalicznej w metalach; w polimerach mog wystpi zjawiska rozrywania acuchw i gazowania,Naprawd istotny jest wpyw radiacji na elementy elektroniczne. Wyrzniamy dwie kategorie zjawisk zwizanych z tym wpywem:efekty kumulowania dawki promieniowania (total dose) i zwizanej z tym, powolnej degradacji pprzewodnikw, a tym samym powolnej zmianie parametrw nominalnych elementw elektronicznych), orazefekty nazywane Single Event Effects (SEE) polegajce na gwatownej zmianie parametrw lub nawet awarii elementu pod wpywem jednorazowej, bardzo duej dawki promieniowania.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Radiacja i jej wpyw na elementy elektroniczne

Radiacja i jej wpyw na elementy elektroniczneEfekty kumulowania promieniowania wystepuj w czasie caej pracy urzdzenia na orbicie. Podstawow przyczyn tego zjawiska jest przekazanie energii promieniowania do warstwy izolacyjnej (np. tlenek krzemu) w pprzewodniku. Energia moe by pozostawiona przez neutrony lub czstki zjonizowane. Wpyw neutronw wida wyranie w przypadku struktur tranzystorw bipolarnych. Prd kolektora w tranzystorach moe by znacznie zredukowany przez redukcj czasu ycia nonikw mniejszociowych w pprzewodniku. Z kolei wpyw czstek zjonizowanych, jakkolwiek mniej istotny w strukturach bipolarnych, wywouje pogorszenie wzmocnienia tranzystora i zwiksza prd upywu. Efekt ten mona zmniejszy przez stosowanie technologii gbszego domieszkowania. Elementami bardzo czuymi na efekty kumulacji dawki promieniowania sa optoizolatory. Szczeglnie w zastosowaniach liniowych, gdzie istotn rol odgrywa liniowo lub stabilno charakterystyki przejciowej optoizolatora, wszelkie zmiany sprawnoci emitera (LED) i czuoci odbiornika (fotodioda lub fototranzystor) wywoane radiacj stanowi duy problem przy projektowaniu. W strukturach typu MOS zdecydowanie wikszy wpyw ma dawka promieniowania zjonizowanego. Obserwowane s zjawiska zmiany przewodnoci kanaw tranzystorw a nawet poziomw ich przeczania. Naley jeszcze raz podkreli, e wszelkie zjawiska wymienione powyej maj charakter cigy i zale od czasu pracy urzdzenia.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *Cakowita dawka promieniowania skumulowana w hipotetycznym przyrzdzie w czasie 5 lat pracy satelity Integral na orbicie w zalenoci od gruboci osony aluminiowej przewidywania dla 72-godzinnej orbity 7000 114000 km.Trapped Proton and Solar Proton Fluence (Ariane orbit)

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *Cakowita dawka promieniowania skumulowana w czasie caej misji (cruise phase plus dwa lata pracy na orbicie) w hipotetycznym przyrzdzie satelity Bepi Colombo w zalenoci od gruboci osony aluminiowejBepi Colombo - Non-Ionising Energy Loss equivalent 10 MeV Proton Fluence as a function of shielding thickness for the all phases of the mission

Radiacja i jej wpyw na elementy elektroniczneSingle Event Effects - pojedycza, wysokoenergetyczna czstka przechodzc przez struktur pprzewodnika moe wywoa zjawisko przeczenia lub nawet zniszczenia elementu. Zjawisko to wystpuje w przypadku gdy element jest zasilany (pracuje). Wyrniamy nastpujce kategorie SEE:Single Event Upset - zjawisko przejciowe, po ponownym wczeniu element pracuje poprawnie. Przejcie wysokoenergetycznej czstki powoduje powstanie dodatkowego kanau zoonego z dziur i elektronw i tym samym np. przeczenie si komrki pamici.Single Event Burnout - przejcie wysokoenergetycznej czstki otwiera dodatkowy, pasoytniczy tranzystor w strukturze pprzewodnika. Znaczne zwikszenie prdu z tym zwizane moe by sztucznie podtrzymane przez struktur (efekt sprzenia zwrotnego) i prowadzi do kolejnego wzrostu prdu, a do trwaego przepalenia.Single Event Gate Rupture - cikie, wysokoenergetyczne jony uderzajc w niektre fragmenty strukturu MOSFEF mog spowodowa trwae zniszczenie dielektryka w bramce tranzystoraSingle Event Latchup - przejcie wysokoenergetycznej czstki zatrzaskuje istniejce wewntrz struktury ukady w takim, nieprzewidzianym w normalnej pracy stanie, e powoduje to znaczne zwikszenie prdu ukadu. Jeli nie istnieje w tym momencie moliwo wyczenia zasilania, to nastpuje przepalenie si struktury.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *Latch-Up przykad efektu, ktry moe by wywoany midzy innymi silnym promieniowaniem jonizujacym:Izolacja elementw (diody, tranzystory) w ukadach scalonych realizowana jest poprzez dodatkowe, spolaryzowane zaporowo, zcza P-N. W niektrych z tych ukadw te dodatkowe zcza mog tworzy struktury tranzystorowe, a nawet tyrystorowe, zwane tranzystorami lub tyrystorami pasoytniczymi, nieaktywnymi w czasie normalnej pracy.Aktywacja (wczenie) tyrystora pasozytniczego moe nastpi na przykad na skutek bdnego zasilania, wyadowania elektrostatycznego ale take oddziaywania silnego promieniowania jonizujcego w obszarze bramki tyrystora.Raz wczony tyrystor pozostaje w tym stanie a do momentu zaniku zasilania. Jeli taki tyrystor pasozytniczy jest poczony w strukturze ukadu scalonego z liniami zasilania i masy, wtedy przez struktur popynie, ograniczony tylko rezystancjami Rs i Rw, duy prd praktycznie zwierajcy linie zasilania.Przy braku zewntrznego zabezpieczenia (ograniczenie prdu zasilajcego lub wrcz wyczenie ukadu) prd zwarciowy bdzie pyn a do momentu przegrzania i nastpnie zniszczenia struktury.

Promieniowanie i jego wpyw na elementy elektronicznehttp://www.jpl.nasa.gov/basics/index.htmlJPL's first spacecraft, Explorer 1, carried a single scientific instrument devised and operated by James Van Allen and his team from the University of Iowa. The experiment discovered bands of rapidly moving charged particles trapped by Earth's magnetic field in a doughnut-shaped region surrounding the equator. The belts that carry Van Allen's name have two areas of maximum density. The inner region, consisting largely of protons with an energy greater than 30 million EV, is centered about 3,000 km above Earth's surface. The outer belt is centered about 15,000 to 20,000 km up, and contains electrons with energies in the hundreds of millions of EV. It also has a high flux of protons, although of lower energies than those in the inner belt. Flight within these belts can be dangerous to electronics and to humans because of the destructive effects the particles have as they penetrate microelectronic circuits or living cells. Most Earth-orbiting spacecraft are operated high enough, or low enough, to avoid the belts. The inner belt, however, has an annoying portion called the South Atlantic Anomaly (SAA) which extends down into low-earth-orbital altitudes. The SAA can be expected to cause problems with spacecraft which pass through it.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Rzeczywiste dane pochodzce z pokadu satelity Integral widoczne przejcie (raz na trzy doby) satelity przez wyszy z pasw Van Allena

JPL - widok laboratoriw testowychESTEC - widok laboratoriw testowychTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Testy wytrzymaociowe:poszukiwanie rezonansw; wymuszenia typu random,wymuszenia sinusoidalne,wymuszenia typu shock,testy akustyczne.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

STEP

AXIS

ITEM UNDER TEST

TYPE OF TEST

PARA

1

X

FIXTURE

RESONANCE SEARCH UNLOADED

5.1.1.

2

X

FIXTURE

RESONANCE SEARCH LOADED

5.1.2.

3

X

VEB XX

RESONANCE SEARCH

5.1.3.

4

X

VEB XX

SINUSOIDAL VIBRATION

5.1.4.

5

X

VEB XX

RESONANCE SEARCH (POST TEST)

5.1.5.

6

X

VEB XX

RANDOM VIBRATION

5.1.6.

7

X

VEB XX

RESONANCE SEARCH (POST TEST)

5.1.7.

8

Y

FIXTURE

RESONANCE SEARCH UNLOADED

5.2.8.

9

Y

FIXTURE

RESONANCE SEARCH LOADED

5.2.2.

10

Y

VEB XX

RESONANCE SEARCH

5.2.3.

11

Y

VEB XX

SINUSOIDAL VIBRATION

5.2.4.

12

Y

VEB XX

RESONANCE SEARCH (POST TEST)

5.1.6.

13

Y

VEB XX

RANDOM VIBRATION

5.2.5.

14

Y

VEB XX

RESONANCE SEARCH (POST TEST)

5.2.6.

15

Z

FIXTURE

RESONANCE SEARCH LOADED

5.3.1.

16

Z

VEB XX

RESONANCE SEARCH

5.3.2.

17

Z

VEB XX

SINUSOIDAL VIBRATION

5.3.3.

18

Z

VEB XX

RESONANCE SEARCH (POST TEST)

5.1.6.

19

Z

VEB XX

RANDOM VIBRATION

5.3.4.

20

Z

VEB XX

RESONANCE SEARCH (POST TEST)

5.3.5.

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *Poszukiwanie rezonansw

AMPLITUDE (g)

FREQUENCY (Hz)

SWEEP RATE (oct./min.)

0.5

5 to 2000

2

Note:

The pre-test shall consist of one sweep up and one down

The post-test shall consist of one sweep up.

RESONANCE SEARCH LEVELS

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

AXIS

FREQUENCY (Hz)

ACCELERATION LEVEL

SWEEP RATE

ALL

5 - 21

21 - 60

60 - 100

+/-11mm

+/-20 g

+/-6g

INPUT NOTCHING (1)

1 SWEEP UP ONLY AT

2 oct./min.

SINE VIBRATION / QUALIFICATION LEVELS

AXIS

FREQUENCY (Hz)

ACCELERATION LEVEL

SWEEP RATE

ALL

5 - 21

21 - 60

60 - 100

+/-7.33mm

+/-13.34 g

+/-4g

INPUT NOTCHING (1)

1 SWEEP UP ONLY AT

4 oct./min.

SINE VIBRATION ACCEPTANCE LEVELS APPLICABLE FOR FM AND FS

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

AXIS

FREQUENCY

LEVEL PSD (g2/Hz)

DURATION

ALL - AXIS

20 - 100 Hz

100 - 500 Hz

500 - 2000 Hz

+6 dB/oct

0.2

-6 dB/oct

120 s (per axis)

RANDOM VIBRATION QUALIFICATION LEVELS

AXIS

FREQUENCY

LEVEL PSD (g2/Hz)

DURATION

ALL - AXIS

20 - 100 Hz

100 - 500 Hz

500 - 2000 Hz

+6 dB/oct

0.089

-6 dB/oct

60 s (per axis)

RANDOM VIBRATION ACCEPTANCE LEVELS APPLICABLE FOR FM AND FS

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *Shock tests, Pyroshock tests np. 1500g/0.005ms

Three electrodynamic shakers are available: an 80 kN shaker used in vertical or horizontal configuration coupled to an auxiliary slip table; two 160 kN shakers which can either be used individually for testing subsystems or in multishaker configuration to enlarge the capacity of the facility. The shakers are electrically powered with switching amplifiers and controlled using a digital vibration control system.The multishaker facility, which has been operational since January1985, can efficiently and safely test spacecraft with a mass of up to 6000 kg in vertical and 20000 kg in horizontal direction.THE MECHANICAL TEST FACILITIES AT ESTECTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

The multishaker system is mounted on a 550 ton seismic blocksupported by pneumatic springs so as to minimise reactionforces to the building. In the 320kN or multishaker mode, testscan be performed in both vertical and horizontal configurations,thus making it possible to simulate the effect of launch vibrationsin the three orthogonal axes of the spacecraft.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

HYDRA hydraulic shaker is distinguished by thefollowing main features compared with conventionalelectrodynamic shakers: extended shaker forces and stroke extended frequency range below 5 Hz improved test operations and safety.THE HYDRA MULTI-AXIS SHAKERA powerful tool for vibration testing at ESTECTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

THE LARGE EUROPEAN ACOUSTIC FACILITY AT ESTECTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Kombinowane testy wibracyjne i termiczne w RALTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Testy cieplne w komorach prniowych,T maxZakres nominalnej pracy przyrzduT minTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Testy cieplne w komorach prniowych,TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

elementy skadowestabilizowany termicznie paszcz wewntrzny,obudowa komory prniowej,instrument poddawany testom,przepusty elektryczne,stabilizowany termicznie st,hermetyczne zamknicie obudowy,pompy prniowe (niewidoczne, pod komor), elementy chodzenia komory,okno do podgldu,

Komora termiczno - prniowa;TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Przykady rnych rozwiza komr termiczno - prniowychLaben SpAA, MediolanRAL koo Oxfordu,IFSI CNR, koo RzymuESTEC, Noordwijk, HolandiaTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

The sun simulator provides a horizontal solar beam of 6 m in diameter with excellent uniformity and very high long- and short-term stability (

Dane techniczne LSCTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Clean-room - czyste pomieszczenie przeznaczone do montau i testw aparatury kosmicznej:

klasa 100000 - podstawowa klasa czystoci uywana do montau elektroniki, mechaniki, w pomieszczeniach tej klasy testuje si satelity i urzdzeniasatelitarne, klasa 100000 ma zastosowaniee wszdzie tam, gdzie nie wystpuje potrzeba zapewnienia lepszej czystoci dla elementw optyki i mechaniki,klasa 10000 - czasami wymienna z 100000; uywana do montau, integracji i testw zoonych mechanizmw i optyki,klasa 1000 - specyfikowana dla montau, justowania i testw optyki, uywana przy niektrych procesach technologicznych, montau ukadw hybrydowych,klasa 100 i lepsze - gwne zastosowanie przy procesach technologicznych i montau bardzo skomplikowanej optyki.

Stosowane filtry:Filtry wstpne (Coarse Filters); efektywno dla czsteczek o rednicy 80m i wikszych (owady, wkna, piasek, pyki kwiatowe, py metalurgiczny),Filtry dokadne (Fine Filters); efektywno dla czsteczek o rednicy 0.5 (1.0) m i wikszych (sadze, mga olejowa, zarodniki grzybw, pyy)HEPA (High-Efficiency particulate Air); efektywno 99.99% dla czsteczek o rednicy 0.3m i wikszych (bakterie, dym tytoniowy, aerozole)ULPA (Ultra-Low Penetration Air); efektywno 99.9995% dla czsteczek o rednicy 0.128m i wikszych(wszystkie rodzaje dymw i aerozoli, wirusy)

Ilo cakowitych wymian powietrza (w cigu godziny) w pomieszczeniu o zadadanej klasie czystoci:TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

1000000

10000

1000

100

10

1

5-48

60-90

150-240

240-480

300-540

360-540

RALpomieszczenie klasy 100 uywane do skadowania elementw optycznych CBK PANnamiot o klasie 10000 w pomieszczeniu 100000RALkomora laminarna o klasie czystoci 100MPIfR Bonnklasa 10000 ze stanowiskiem klasy 1000 TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Observatoire de Medoun - clean room klasy 1000 uywany do montau optyki spektrometru UV-IR dla misji Mars ExpressNPO ENERGI, Kaliningrad koo Moskwy -monta moduu PRIRODA dla stacji orbitalnej MIR - pomieszczenia klasy 100000TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Testy EMCConductive Emission - pomiary zakce w kablach wychodzcych z przyrzduRadiated Emission - pomiary zakce w polu elektromagnetycznym wok przyrzduPrzykad filtrw stosowanych dla zmniejszenia zakce elektromagnetycznych wytwarzanych przez przyrzdTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Testy EMCRadiated Susceptibility - pomiary odpornoci przyrzdu na zakcenia w polu elektromagnetycznymTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Testy EMCTesty ESD - badanie odpornoci przyrzdu na wyadowania elektrostatyczneTECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Aparatura MGSE i EGSE, TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *

Bazy danych sucych do testw i pniejszego sterowania aparaturZawieraj pen charakterystyk urzdzenia:struktury komend sterujcych przyrzdem,pojedycze komendy i przetestowane sekwencje komend suce do sterowania przyrzdem,tablice wspczynnikw uywanych w komendach sterujcych i algorytmy przeliczania parametrw naukowych na parametry inynierskie( np. w formacie hex),bezpieczne dla aparatury zakresy, w ktrych mog zmienia si parametry komend sterujcychzakresy, w ktrych mog si zmienia dane serwisowe pochodzce z przyrzdu, wartoci krytyczne i wartoci wiadczce o awarii,porwnawcze pliki danych serwisowych umoliwiajce szybk ocen poprawnoci pracy przyrzdu na orbicie, tabele wspczynnikw i algorytmy obrbki uywane przy konwersji danych pochodzcych z przyrzdw

Bazy danych tworzone s ju przy pierwszych modelach poddawanych testom i uaktualniane przez cay czas eksploatacji aparatury.TECHNOLOGIE KOSMICZNE, Podstawy budowy aparatury pomiarowej Piotr Orleaski / CBK PAN / Wykad 3 / 16.03.2005 / strona *