ESPI
-
Upload
mateusz-lewandowski -
Category
Documents
-
view
11 -
download
3
description
Transcript of ESPI
Badania elementów i zespołów maszyn – laboratorium (MMM4035L) Ćwiczenie 23.
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych (ESPI) do badania elementów maszyn.
Opracowanie: Ewelina Świątek-Najwer na podstawie materiałów przygotowanych
przez Dr inż. Krzysztofa Ścigałę
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 2
Metoda ESPI
Elektroniczna interferometria obrazów plamkowych (ESPI) jest odmianą interferometrii
plamkowej, wykorzystującą metody elektronicznego przetwarzania i analizy danych. System
ESPI umożliwia zarejestrowanie obrazów plamkowych za pomocą kamery wideo lub aparatu
cyfrowego, natomiast dalsza analiza i przetwarzanie danych odbywa się za pomocą metod
elektronicznych, zarówno analogowych jak i cyfrowych. Metoda ESPI może być
wykorzystywana w badaniach przemieszczeń jako alternatywa dla fotografii plamkowej
i interferometrii holograficznej, szczególnie w przypadku, kiedy niezbędny jest pomiar
wszystkich składowych wektora przemieszczenia punktów powierzchni obiektu. Metoda
umożliwia pomiar zarówno w warunkach statycznych, jak i pomiar deformacji
spowodowanych drganiami.
Wady i zalety W porównaniu do standardowej metody interferometrii plamkowej, metoda ESPI
posiada następujące zalety:
czułość aparatów cyfrowych jest wyższa niż w przypadku płyt holograficznych, dzięki
czemu możliwe jest rejestrowanie obrazów plamkowych przy krótkim czasie
ekspozycji (krótki czas ekspozycji pozwala zmniejszyć wpływ drgań);
niski koszt pomiarów (brak konieczności zastosowania drogich materiałów: płyt
i filmów o wysokiej rozdzielczości);
szybkie elektroniczne przetwarzanie danych powoduje, że pomiar przebiega w czasie
rzeczywistym;
nowoczesne systemy ESPI mogą być stosowane w obecności innych źródeł światła;
małe wymiary nowoczesnych kamer CCD pozwalają na wykonywanie małych,
przenośnych systemów pomiarowych; w przypadku miejsc trudno dostępnych
pomiary można wykonywać dzięki zastosowaniu falowodów.
Metoda ESPI ma następujące wady:
rozdzielczość przestrzennej kamery CCD jest niższa niż w przypadku płyt
holograficznych lub filmów, co oznacza, że część informacji zostanie utracona
i zakres pomiaru będzie ograniczony;
koszty systemu pomiarowego są znacznie wyższe niż koszty tradycyjnych układów do
interferometrii holograficznej lub fotografii plamkowej.
Układ pomiarowy Układ pomiarowy (rys. 1) składa się z dwóch części: optycznej i elektronicznej. W części
optycznej generowany jest obraz plamkowy (rys. 2a), natomiast w części elektronicznej obraz
przekształcany jest w cyfrowy zbiór danych, a na jego podstawie generowane są korelogramy
(rys. 2b), które poddawane są dalszej cyfrowej analizie. Część optyczną układu stanowi
interferometr plamkowy (rys. 3). Najczęściej część optyczna generuje dwie wiązki (niektóre
systemy wykorzystują również wiązki wielokrotne), tj.: wiązkę obiektową i wiązkę
odniesienia, będące efektem działania tzw. dzielnika wiązki. Efekt interferencji obu wiązek
skierowanych na jedną płaszczyznę jest rejestrowany przez kamerę CCD.
Część elektroniczna układu pomiarowego służy do zapisu i przetwarzania interferogramów
plamkowych zarejestrowanych przez kamerę CCD. Głównym zadaniem części elektronicznej
jest wyznaczenie prążków wtórnego korelogramu. Obraz prążkowy widoczny na monitorze
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 3
jest wynikiem jakościowym, jego dalsze analizy dają możliwość oceny ilościowej, np.
w postaci „mapy” przemieszczeń.
Rys. 1. Schemat optycznej i elektronicznej części systemu pomiarowego ESPI
(oznaczenia poniżej)
WIĄZKA 2 WIĄZKA 1
KORELOGRAM PIERWOTNY
KORELOGRAM WTÓRNY
GENEROWANIE
PRĄŻKÓW
PREZENTACJA W
CZASIE
RZECZYWISTYM
OCENA
ILOŚCIOWA
ANALIZA
PRĄŻKÓW
OCENA
JAKOŚCIOWA
CCD
X1 X2
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 4
MA - modulator amplitudy, DW - dzielnik wiązki, MF - modulator fazy
DOF - urządzenie do dekorelacji plamki, O – obiekt, CCD - kamera CCD
i1, i2 - faza fali światła generowanej przez laser (w wiązce 1 i wiązce 2)
X1, X2 - zmierzona wartość w wiązce 1 i 2
o1, o2 - faza fali świetlnej po odbiciu od powierzchni zmierzonego i znormalizowanego obiektu
p1, p2 - faza plamki zależna od chropowatości powierzchni mierzonego i znormalizowanego
obiektu
o - faza fali świetlnej, będącej wynikiem interferencji wiązki 1 i 2
r - zmiana fazy, spowodowana propagacją fali źródła światła laserowego do aparatu
p - faza plamki na obrazie, który jest wynikiem interferencji wiązki 1 i 2.
Procedura pomiaru Procedura pomiaru składa się z 4 etapów: pierwszy i drugi przebiega w części
optycznej, trzeci i czwarty w części elektronicznej.
Pierwszy etap polega na wygenerowaniu interferogramu plamkowego związanego
z oświetloną powierzchnią. Sygnałami wejściowymi są w tym przypadku i1, i2 - fazy fal
światła lasera w wiązce 1 i 2, oraz X1, X2 - sygnały mierzone wiązki 1 i 2. Wyjściowym
sygnałem jest interferogram, który jest wynikiem interferencji fal wiązki 1 i 2 (rys. 2b).
Najważniejszym parametrem tego obrazu jest faza plamki na obrazie p.
Drugi etap procesu jest związany z zarejestrowaniem obrazu plamek przez kamerę
CCD. Sygnał wyjściowy, tj. obraz cyfrowy nazywa się korelogramem pierwotnym.
Korelogram pierwotny zawiera informacje o mierzonym rozkładzie jasności plamek, jednak
informacja ta jest zawarta w losowym rozkładzie plamek.
Trzeci etap polega na wygenerowaniu korelogramu wtórnego (prążków)
z widocznymi zmianami średniej intensywności. Prążki mogą być wyświetlone
i w dalszym etapie analizowane w celu uzyskania wyniku ilościowego (rys. 2c).
Czwarty etap jest cyfrową analizą prążków i informacji o wartości mierzonej.
Surowym wynikiem tego etapu jest mapa fazowa, natomiast końcowym wynikiem jest plik
zawierający dane opisujące rozkład wartości mierzonej (rys. 2d).
Rys. 2. Interferogram plamkowy (a), korelogram pierwotny (b),
korelogram wtórny (c) i mapa fazowa (d)
Pierwszy etap pomiaru pozwala wygenerować plamkogram i interferogram plamkowy.
Najważniejsze problemy na tym etapie pomiaru:
każde przemieszczenie powierzchni obiektu, jak również każda zmiana oświetlenia
lub warunków obserwacyjnych wyzwala zmianę fazy plamek;
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 5
wynik interferencji plamek z wiązki 1 (wiązki obiektowej) z wiązką 2 (referencyjną)
lub referencyjnym plamkogramem jest różnicą faz plamek wiązki 1 i faz wiązki 2 lub
referencyjnego plamkogramu.
Rys. 3 przedstawia schemat typowego układu optycznego interferometru plamkowego
stosowanego w metodzie ESPI do zapisu rozkładu przemieszczeń w płaszczyźnie rejestracji
(matrycy CCD).
W drugim etapie, kamera zapisuje obraz złożenia dwóch wiązek światła. Sygnał wyjściowy
z kamery jest wynikiem ekspozycji światłoczułego elementu kamery podczas nagrywania
jednej klatki. W przypadku obiektów obciążanych dynamicznie lub w przypadku modulacji
amplitudy lub fazy podczas nagrywania klatek, wyjściowy sygnał będzie wynikiem zapisu
zmiennej intensywności wiązki. Czas zapisu pojedynczej klatki wpływa na sposób, w jaki
różnica faz fal optycznych jest związana z mierzonym i przechowywanym sygnałem
wyjściowym.
Intensywność światła jest uśredniana przez kamerę w postaci uśredniania przestrzennego
pikseli oraz uśredniania czasowego zapisanych klatek. Obraz, który jest wynikiem tego
uśredniania jest korelogramem pierwotnym. Różne parametry kamery (np. czułość) mogą
wpływać na powstawanie wtórnego korelogramu.
Rys. 3. Układ optyczny interferometru do zapisu przemieszczeń w płaszczyźnie rejestracji
Uzyskany korelogram jest podstawą do dalszej analizy cyfrowej (rys.4). Zapis prążków
i wtórny korelogram są uzyskiwane w dwóch etapach. W pierwszym etapie, lokalne zmiany
intensywności światła w każdej plamce są przekształcane w zmienność kontrastu plamek.
W drugim etapie, za pomocą demodulacji kwadratowej przekształcane są lokalne zmiany
kontrastu na prążki wtórne ze zróżnicowaną jasnością.
Automatyczna analiza uzyskanych wyników składa się z 4 etapów.
1. Ocena fazy - ten krok polega na obliczeniu rozkładu przestrzennego fazy.
Wyjściowym parametrem jest tablica wartości fazy odpowiadających mierzonym
sygnałom; tablica ta nazywana jest mapą fazową.
2. Rozpakowanie fazy - etap ten polega na zmianie mapy fazowej w rozpakowaną
tablicę mapy fazowej, bez nieciągłości na prążkach.
3. Usunięcie zakłóceń - podczas procesu generowania prążków i oceny danych pewne
składowe nie związane z mierzonym sygnałem mogą być dodawane do rozkładu fazy.
Jednak składowe te są stałe lub liniowo zależne od współrzędnych przestrzennych
i można je usunąć. W tym kroku wykonywana jest głównie estymacja za pomocą
dopasowania metodą najmniejszych kwadratów.
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 6
4. Re-skalowanie - w tym etapie końcowy zbiór danych uzyskuje się poprzez obliczenie
wartości mierzonych na podstawie wartości faz.
Rys. 4. Schemat generowania prążków z pierwotnego korelogramu: a) rozkład natężenia światła
wzdłuż linii AA, b) schemat blokowy, c) obraz plamkowy
Pomiary składowych wektora przemieszczenia
Połączenie lub zwielokrotnienie optycznych układów pomiarowych przedstawionych
na rys. 5 pozwala na pomiar każdej z trzech składowych wektora przemieszczeń.
Rys.5. Układ optyczny interferometru do zapisu przemieszczeń poza płaszczyzną rejestracji (a)
i w płaszczyźnie rejestracji (b)
(przemieszczenia równoległe lub prostopadłe do płaszczyzny rejestracji obrazu)
KORELOGRAM WSTĘPNY
FILTR GÓRNO-PRZEPUSTOWY
DEMODULACJA KWADRATOWA
KORELOGRAM WTÓRNY
obiekt obiekt
soczewka soczewka
kamera
kamera
zwierciadło
zwierciadło
dzielnik wiązki
dzielnik wiązki
zwierciadło zwierciadło
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 7
Przemieszczenie zapisywane jest przeważnie w procedurze krokowej. Typowa konfiguracja
optyczna głowicy pomiarowej do rejestracji składowych wektora przemieszczenia w trzech
prostopadłych kierunkach przedstawiona jest na rys. 6.
Rys. 6. Optyczny układ głowicy pomiarowej
do rejestracji trzech składowych wektora przemieszczenia
Streszczenie W nowoczesnej mechanice eksperymentalnej ciała stałego wykorzystuje się polowe
metody optycznej analizy naprężeń, odkształceń i przemieszczeń. Są to łatwe w zastosowaniu
i praktyczne metody. ESPI łączy zalety wszystkich tradycyjnych metod optycznych
z nowoczesnym, automatycznym przetwarzaniem danych. Z tego powodu metoda ESPI jest
jedną z najważniejszych metod analizy przemieszczeń.
Część praktyczna
Celem zajęć jest analiza przemieszczeń wybranego obiektu pomiarowego, za pomocą
układu 3D ESPI Ettemeyer, umożliwiającego pomiar składowych wektora przemieszczenia w
trzech kierunkach. Przykładowo, obiektem badań może być model zdeformowanego stawu
kolanowego, obciążonego pionowo skierowaną siłą wywieraną za pomocą śruby
mikrometrycznej (rys. 7).
W ramach części praktycznej zajęć należy zarejestrować dwa interferogramy
plamkowe dla dwóch stanów obciążenia obiektu, wygenerować mapy fazowe i mapy
rozkładu przemieszczeń.
Znając warunki obciążenia badanego obiektu należy ocenić otrzymane mapy rozkładu
przemieszczeń. Należy zwrócić uwagę na dużą wrażliwość układu pomiarowego na
występowanie drgań podczas badań. Zakłócenia podczas rejestracji mogą w znaczący sposób
zaburzyć otrzymane wyniki, stąd istotna jest krytyczna ocena otrzymanych wyników.
Przykładowy wynik badania składowej wektora przemieszczenia dla modelu stawu
kolanowego przedstawiono na rysunku 7.
obiekt
w płaszczyźnie
WIĄZKA 1
WIĄZKA 2
poza płaszczyzną
wiązka odniesienia
laser,
dioda
kamera
Zastosowanie elektronicznej interferometrii obrazów plamkowych
(ESPI) do badania elementów maszyn
Strona 8
Rys. 7. Układ 3D ESPI Ettemeyer do badania przemieszczeń
(przykład obiektu - model stawu kolanowego)
Rys. 8. Mapa składowej wektora przemieszczenia
wyznaczona dla nasady bliższej kości piszczelowej
Literatura:
1. Ścigała K.:"Experimental analysis of displacement distribution in machine parts using the
electronic speckle pattern interferometry (ESPI) method", Laboratory Handout, 2009.
2. Patorski K., Kujawińska M., Sałbut L., Interferometria laserowa z automatyczną analizą
obrazu, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2005.